接觸電阻測(cè)試儀現(xiàn)場(chǎng)測(cè)試中的常見(jiàn)問(wèn)題

 市場(chǎng)上大多數(shù)接觸電阻測(cè)試儀（也稱為回路電阻測(cè)試儀）的原理是使用典型的四線測(cè)量方法。高頻開(kāi)關(guān)電源提供的測(cè)試電流大于100A。當(dāng)按下測(cè)量鍵時(shí)，高頻開(kāi)關(guān)電源輸出大于100A的測(cè)試電流。采樣電路開(kāi)始采樣，獲得的信號(hào)由放大器放大，模擬信號(hào)由A / D轉(zhuǎn)換器轉(zhuǎn)換為數(shù)字信號(hào)，然后數(shù)據(jù)經(jīng)過(guò)微處理器進(jìn)行濾波，計(jì)算和處理，后發(fā)送到顯示屏顯示測(cè)量電流和電阻值，并且當(dāng)電流測(cè)試回路斷開(kāi)或接觸不良時(shí)，儀器將根據(jù)分流器上的電壓判斷電流回路連接不良或斷開(kāi)。直流電阻快速測(cè)試儀采用了新的電源技術(shù)。具有測(cè)量快速，體積小，使用方便，測(cè)量精度高的特點(diǎn)。它是測(cè)量變壓器繞組和大功率電感設(shè)備的直流電阻的理想設(shè)備。

現(xiàn)有測(cè)試方法存在的問(wèn)題

根據(jù)常規(guī)設(shè)計(jì)原理設(shè)計(jì)的接觸電阻測(cè)試儀發(fā)現(xiàn)在現(xiàn)場(chǎng)測(cè)試中存在問(wèn)題：當(dāng)測(cè)試儀的電壓連接電路接觸不良或斷路時(shí)，測(cè)試儀還會(huì)顯示值，此時(shí)將出現(xiàn)以下類型：

（1）電壓環(huán)路是開(kāi)放的，并且在測(cè)試現(xiàn)場(chǎng)沒(méi)有強(qiáng)烈的電場(chǎng)干擾。在這種情況下，由于放大器輸入的差模電壓基本為0，因此儀器顯示的測(cè)試值接近于0。如果接觸電阻測(cè)試儀具有足夠的現(xiàn)場(chǎng)測(cè)試經(jīng)驗(yàn)，則可以判斷為電壓環(huán)測(cè)試線儀器異常。消除儀器的電壓環(huán)路測(cè)試線異常后，可獲得終正確的測(cè)試結(jié)果；如果測(cè)試人員沒(méi)有足夠的現(xiàn)場(chǎng)測(cè)試經(jīng)驗(yàn)，則可能會(huì)誤判測(cè)試人員的問(wèn)題并將其中斷，測(cè)試，更換或退回儀器，會(huì)延遲斷電時(shí)間，并給測(cè)試工作帶來(lái)不必要的麻煩。

（2）電壓電路接觸不良，在大多數(shù)情況下，長(zhǎng)期操作后，斷路器的端子會(huì)在端子塊的外表面上產(chǎn)生氧化膜或油膜，當(dāng)電路電阻表的電壓測(cè)試夾連接到這樣的端子排時(shí)，這是可能的。如果接觸不良，則不僅是電壓測(cè)試線夾本身，而且是一定的接觸電阻，當(dāng)接觸電阻值達(dá)到電壓采樣電路的內(nèi)部電阻值時(shí)，將嚴(yán)重影響測(cè)試結(jié)果。

（3）電壓電路斷路或接觸不良（電路斷開(kāi)時(shí)接觸電阻R1無(wú)窮大），在測(cè)試現(xiàn)場(chǎng)有很強(qiáng)的電磁干擾，例如母線被充電，此時(shí)被充電的母線通過(guò)介質(zhì)的空氣電容會(huì)干擾測(cè)試儀中的兩個(gè)。電壓測(cè)試線由于干擾而在環(huán)路測(cè)試儀的電壓采集線上具有差分模式電壓。

如果干擾很大，則回路電阻測(cè)試儀將顯示一個(gè)比被測(cè)產(chǎn)品的電阻值大得多的值。此時(shí)，如果測(cè)試人員具有足夠的現(xiàn)場(chǎng)測(cè)試經(jīng)驗(yàn)，則可以判斷測(cè)試結(jié)果是否異常，從而引起關(guān)注并終獲得正確的測(cè)試結(jié)果，但是，如果測(cè)試人員經(jīng)驗(yàn)不足，則可能會(huì)誤判開(kāi)關(guān)電路的電阻值超出標(biāo)準(zhǔn)，并可能會(huì)因斷電而修復(fù)缺陷，從而給功率產(chǎn)生不必要的損失。

如果干擾強(qiáng)度不是很大，則儀器的顯示值恰好在斷路器的合格電阻范圍內(nèi)，這種情況與（2）“電壓電路接觸不良”的情況相同，也會(huì)引起誤判